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LTS-3DM
轻量化、高亮度高均匀照射,适用于反光或IC表面字符检测。
产品特点:1.均匀性高,照射面积大; 2.采用轻量化设计,亮度高; 3.采用外边框固定方式,受力更均匀,长时 间使用时更牢固可靠; 4.外形灵活多变,可根据实际需要定制。 |
行业应用:1.反光/不平整表面检测 2.IC表面字符检测 3.电容器表面破损检测等 |
照度特性图 均匀性分布图
型号:LTS-3DM198-W
成像实例:IC芯片缺陷检测
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- LTS-3DM116-R/BGW
- /
- W116xH52.41mm
- 24V
- 6.5W/11.6W
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- LTS-3DM175-R/BGW
- /
- W175xH76.93mm
- 24V
- 7.2W/12.0W
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- LTS-3DM198-R/BGW
- /
- W198xH88.48mm
- 24V
- 12.5W/21.2W
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- LTS-3DM260-R/BGW
- /
- W260xH118.98mm
- 24V
- 17.3W/28.8W
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